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SurfaceTechnology GERMANY, 16. - 18. Juni 2020

Analytik

Produktbeschreibung

Analytik von Grenzflächen, Mikrostrukturen, Werkstoffen und Werkzeug

Präparation komplexer Proben und Grenzflächen; alle gängigen Verfahren der Material-, Oberflächen- und Mikrostrukturanalyse (REM, TEM, FIB, EDX, SIMS, SNMS, XPS).

Halle 1, Stand J57

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