Hitachi High-Tech Analytical Science GmbH, Stand C41, (49)
Hitachi High-Tech präsentiert das RFA-Schichtdickenmessgerät FT230
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Das Gerät wurde für eine effiziente Schichtdickenmessung und Materialanalyse in der Produktions- und Qualitätskontrolle entwickelt. Durch automatisierte Funktionen zur Erkennung von Bauteilen und Messmustern werden Prüfabläufe beschleunigt und der manuelle Aufwand reduziert. Dies ermöglicht eine zuverlässige Prüfung bei hohen Durchsatzanforderungen sowie eine konsistente Auswertung der Messergebnisse.
Der FT230 eignet sich unter anderem für Anwendungen in der Metallveredelung, der Elektronikfertigung sowie in der Kunststoffbeschichtung und unterstützt die Erfüllung steigender Qualitäts- und Dokumentationsanforderungen.
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