In Feldkirchen werden Oberflächen- und Strukturanalysen mittels XPS, TOF-SIMS und Auger-Elektronenspektroskopie durchgeführt. Die Verfahren erfassen die äußersten Atomlagen und ermöglichen Element-, chemische Zustands- und Spurenanalysen. Typische Fragestellungen betreffen Verunreinigungen, Korrosion, Schichtzusammensetzungen oder prozessbedingte Veränderungen.

Ergänzend kommt hochauflösende 3D-Computertomographie zum Einsatz. Sie erlaubt zerstörungsfreie Volumenuntersuchungen, beispielsweise von Lötstellen, Porositäten oder Batteriezellen, und macht innere Defekte sichtbar.

Der Ablauf umfasst Anfrage, Abstimmung der Untersuchungsstrategie, Messung, Auswertung und Berichterstellung. Unterschiedliche Methoden können kombiniert werden, um material- und anwendungsspezifische Fragestellungen umfassend zu analysieren.