Oberflächenanalyse – Präzise Einblicke bis in die äußerste Atomebene
Wir bieten hochauflösende, quantitative und chemisch sensitive Analysen von Oberflächen, Grenzflächen und dünnen Schichten mit folgenden Methoden:
- XPS (Röntgen-Photoelektronenspektroskopie)
Identifizieren und quantifizieren Sie chemische Elemente und Bindungszustände auf der Probenoberfläche – ideal für die Materialcharakterisierung, Fehlstellenanalyse oder Qualitätssicherung auf Nanometerskala.
- AES (Auger-Elektronenspektroskopie)
Nutzen Sie diese Methode zur hochauflösenden Elementverteilung in oberflächennahen Bereichen – besonders effektiv bei der Analyse von Metallen, Legierungen und mikrostrukturierten Materialien.
- TOF-SIMS (Time-of-Flight Sekundärionen-Massenspektrometrie)
Erhalten Sie molekulare und isotopische Informationen mit höchster lateraler Auflösung – optimal zur Tiefenprofilierung, Imaging-Analyse und Detektion von Kontaminationen.
Zur Produktseite